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Si基纳米光电子材料制备科学与性能研究项目通过科技成果评价

2017.05.16

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  2017年5月16日,中科合创(北京)科技成果评价中心组织专家,在昆明召开了由云南大学完成的“Si基纳米光电子材料制备科学与性能研究”项目科技成果评价会,专家审阅了技术资料,听取了技术总结报告,经质询、答疑和讨论,形成如下评价意见:

  1、技术资料齐全,数据翔实,符合科技成果评价要求。

  2、成果率先提出了采用溅射技术制备高密度Ge量子点的方法,使得大规模生长Ge量子点光电子材料成为可能。

  3、成果提出了一种Si离子注入改性发光技术,获得了与光纤低损耗窗口匹配的室温全硅发光材料。

  4、在Eu3+和Tb3+离子共硅酸盐微晶玻璃中,实现了白光发射。采用导电原子力显微镜观察到Ge量子点的空穴共振隧穿效应。

  5、成果发表论文73篇,其中SCI收录28篇,EI收录28篇;已获得6项发明专利授权。

  综上所述,该成果研发了三类Si基发光材料,在Si材料的制备科学和光电性能领域创新性较强,总体达到国际先进水平。

  建议:加强应用研究。

出席嘉宾名单

  陈家林  贵研铂业股份有限公司研究员

  张若岚  云南北方红外集团公司物理研究室研究员

  雷 霆  昆明冶金专科学校教授

  杨 斌  昆明理工大学教授

  邱建备  昆明理工大学教授

  王晓旭  云南省科学技术院研究员

  秦 穆  云南省对外科技合作协会研究员


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